Analyse des systemes de mesure - MSA

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Non finançable CPF
Tout public
Présentiel
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Etudiant
Prix
1320 €
Durée
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En présentiel
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Cette formation est disponible dans les centres de formation suivants:
  • 75 - Paris 12e
Cette formation peut être dispensée dans votre entreprise dans les localités suivantes :
  • 75 - Paris
  • 77 - Seine-et-Marne
  • 78 - Yvelines
  • 91 - Essonne
  • 92 - Hauts-de-Seine
  • 93 - Seine-Saint-Denis
  • 94 - Val-de-Marne
  • 95 - Val-d'Oise
Objectifs
Connaître toutes les méthodes statistiques pour analyser un système de mesure


Compétences visées

- Appréhender la maîtrise des systèmes de mesure et son intégration dans la maîtrise statistique des processus

- Connaître le vocabulaire de la métrologie

- Avoir une introduction à un logiciel de statistique, par défaut le logiciel R

- Connaître les principes et techniques de l'inférence statistique et des systèmes de mesure, en calculant des intervalles de confiance et en menant des tests de comparaison et appariés

- Apprivoiser les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure parmi l'échantillonnage et l'étalonnage

- Savoir mener l'étude d'incertitude par le calcul de plusieurs paramètres et indicateurs tels les variances et écart types, les indices R&R, Cpm et P/T

- Approfondir l'étude d'incertitude

- Examiner le cas de mesures nominales avec les indices Kappa et voir leur mise en œuvre
Programme
Programme

- Introduction

  • La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s'agit-il ? Qu'apporte-t-elle ? Comment s'intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ?


- Le vocabulaire de la métrologie

- Introduction au logiciel statistique

- Inférence statistique et systèmes de mesure

  • Intervalle de confiance

  • Tests de comparaison

  • Technique des tests appariés


- Les différentes techniques de l'analyse des systèmes de mesure

  • Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM

  • Résolution, biais et linéarité

  • Différence entre étalonnage et incertitude de mesure

  • Échantillonnage

  • Comparaison d'éléments du système de mesure

  • Etalonnage et maîtrise statistique de l'étalonnage


- Etude d'incertitude (Gage R&R) : les bases

  • Le principe

  • Le calcul des variances de la mesure et des objets mesurés

  • Écart type total : méthodes de calcul

  • Les guardbands: calcul et mise en œuvre

  • Les indices R&R, Cpm et P/T

  • Les critères d'acceptation

  • Sources de variation, facteurs croisés et facteurs nichés


- Etude d'incertitude : approfondissements

  • Plans d'expériences optimaux pour une étude d'incertitude

  • Le nombre de pièces nécessaire à une étude d'incertitude

  • Les cas des mesures destructrices


- Cas de mesures nominales

  • Le principe

  • Les indices Kappa

  • Mise en œuvre

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